所用設(shè)備

儀器：CTX（5Kg負載單元）

附件：2 mm Cylinder Probe (TA-39)

軟件：Texture Pro軟件

測試類型：Compression壓縮

測前速度：0.5 mm/s

測試速度：1.0 mm/s

測后速度：4.5 mm/s

目標類型：Distance

目標距離：2 mm

觸發(fā)負載：5 g

如下是一個典型的CTX質(zhì)構(gòu)儀測試譜圖，顯示了面餅的硬度，脆性等指標。

圖1：粉餅穿刺測試曲線圖（負載/時間）

硬度：測試過程中峰值最大力值；

第一斷裂衰減：代表產(chǎn)品脆性的層次性，衰減越大說明脆性的層次感越弱；

斷裂性：產(chǎn)品發(fā)生第一次斷裂的力值，力值越大說明越不容易斷裂。

測試結(jié)果如下:

通過圖1可知，當探頭向下運行直至達到粉餅表面的破裂點之前，應力一直處于上升的趨勢；到達破裂點時，圖中顯示第一個應力峰值；穿透表面后，測量的力值穩(wěn)步增加，直到測量到第二個峰值，峰值越大，說明粉末的致密程度越高。